特許
J-GLOBAL ID:200903081314954489

半導体IC内蔵基板及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 鷲頭 光宏 ,  緒方 和文
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-343062
公開番号(公開出願番号):特開2007-150002
出願日: 2005年11月29日
公開日(公表日): 2007年06月14日
要約:
【課題】製品の信頼性を確保しつつ、半導体IC内蔵基板全体の厚さを薄くする。【解決手段】芯材に樹脂を含浸させてなるコア層101,102と、コア層101とコア層102との間に設けられた樹脂層111,112と、樹脂層111,112に埋め込まれた半導体IC120とを備える。コア層101,102の厚さは、いずれも100μm以下に設定されており、これにより、基板全体の厚さを十分に薄くすることが可能となる。しかも、強度の低い樹脂層111,112を堅いコア層101,102によって挟み込んでいることから、基板全体の強度が大幅に向上し、半導体IC120の破損などを防止することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
芯材に樹脂を含浸させてなる第1及び第2のコア層と、前記第1のコア層と前記第2のコア層との間に設けられた少なくとも1層の樹脂層と、前記樹脂層に埋め込まれた半導体ICとを備え、前記第1及び第2のコア層の厚さがいずれも100μm以下であることを特徴とする半導体IC内蔵基板。
IPC (1件):
H05K 3/46
FI (3件):
H05K3/46 Q ,  H05K3/46 N ,  H05K3/46 B
Fターム (15件):
5E346AA12 ,  5E346AA15 ,  5E346AA22 ,  5E346AA32 ,  5E346AA43 ,  5E346BB20 ,  5E346CC09 ,  5E346CC10 ,  5E346CC32 ,  5E346EE01 ,  5E346FF24 ,  5E346FF45 ,  5E346GG15 ,  5E346GG28 ,  5E346HH24
引用特許:
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (7件)
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