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J-GLOBAL ID：200903082790974621

位置姿勢計測装置及びその制御方法

Inventor： 小林 一彦 ,  内山 晋二
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (6)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007134583
Publication number (International publication number)：2008286756
Application date： May. 21, 2007
Publication date： Nov. 27, 2008
Summary：

【課題】複雑な形状を有する計測対象物体の位置姿勢推定のために必要な手続きを簡便化することを可能にする。【解決手段】計測対象物体を撮像する撮像装置と前記計測対象物体との間の相対的な位置姿勢を計測する位置姿勢計測装置は、計測対象物体の3次元モデルデータに基づいて計測対象物体の構成面を抽出するとともに、構成面を形成する線分から、撮像画像のエッジの検出に用いるべき計測用線分を抽出する。位置姿勢計測装置は、抽出された計測用線分を撮像装置の推定された位置姿勢に基づいて撮像画像に投影し、抽出された構成面によって隠蔽されない計測用線分を選択し、選択された計測用線分と撮像画像の対応するエッジとに基づいて撮像装置と計測対象物体との相対的な位置姿勢を算出する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

計測対象物体を撮像する撮像装置の前記計測対象物体に対する相対的な位置姿勢を計測する位置姿勢計測装置であって、 保持されている前記計測対象物体の3次元モデルデータに基づいて前記計測対象物体の構成面を抽出する構成面抽出手段と、 前記3次元モデルデータの前記構成面を形成する線分から、撮像画像のエッジの検出に用いる計測用線分を、隣接する構成面の特性に基づいて抽出する線分抽出手段と、 前記線分抽出手段で抽出された計測用線分を、前記撮像装置の推定された位置姿勢に基づいて前記撮像画像に投影する線分投影手段と、 前記構成面抽出手段で抽出された構成面に基づいて、前記撮像画像に投影された計測用線分のうち前記推定された位置姿勢において可視である計測用線分を選択する選択手段と、 前記選択手段により選択された計測用線分と、前記撮像画像の対応するエッジとに基づいて、前記撮像装置の前記計測対象物体に対する相対的な位置姿勢を算出する算出手段とを備えることを特徴とする位置姿勢計測装置。

IPC (5)：

G01B 11/00 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/60 ,  G01B 11/26 ,  H04N 5/232

FI (5)：

G01B11/00 H ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/60 150P ,  G01B11/26 H ,  H04N5/232 Z

F-Term (42)：

2F065AA04 ,  2F065AA12 ,  2F065AA20 ,  2F065AA37 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ23 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CD20 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC32 ,  5C122DA04 ,  5C122EA64 ,  5C122FH03 ,  5C122FH09 ,  5C122FH14 ,  5C122FH15 ,  5C122HA76 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01 ,  5C122HB06 ,  5L096CA02 ,  5L096DA02 ,  5L096FA06 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 3次元位置姿勢の画像推定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-118447   Applicant：清水建設株式会社

Cited by examiner (17)

• 被検体内のカメラ開口の位置と向きを決定する装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-181922   Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
• 特開昭62-269287
  
• 特開平4-130587
  
• 物体認識装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-349963   Applicant：株式会社豊田中央研究所
• 認識対象物体の位置姿勢認識装置および位置姿勢認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-206812   Applicant：東京電力株式会社, 株式会社東芝
• 三次元距離データを変換する方法および装置並びにデータ変換用プログラムを記憶した記憶媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-257563   Applicant：スズキ株式会社
• 物体の特徴点探索方法及びその処理プログラムを記録した記録媒体ならびに特徴点探索装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-253734   Applicant：日本電信電話株式会社
• 物体位置姿勢推定装置及びその方法並びそれを用いた特徴点位置抽出方法及び画像照合方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-251772   Applicant：日本電気株式会社
• 画像撮影システムおよびカメラシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-206823   Applicant：ミノルタ株式会社
• 位置姿勢認識装置とその位置姿勢認識方法、及び位置姿勢認識プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-244473   Applicant：日本電気株式会社
• モニタ画像処理方法及び画像モニタシステム並びに保全作業システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-074845   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社アリエス
• 3次元位置姿勢の画像推定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-118447   Applicant：清水建設株式会社
• 位置姿勢計測方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-193633   Applicant：キヤノン株式会社
• 位置姿勢計測方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-109834   Applicant：キヤノン株式会社
• 画像処理方法およびその方法を用いた3次元計測方法ならびに画像処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-068212   Applicant：オムロン株式会社
• モデリング装置およびカメラパラメータの計算方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-310015   Applicant：日揮プランテック株式会社, アイディンシステム株式会社
• 3次元位置補正装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-168786   Applicant：三菱電機株式会社