Pat
J-GLOBAL ID:200903084657832795
半導体基板及び半導体装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
柳瀬 睦肇
, 渡部 温
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006076987
Publication number (International publication number):2007258230
Application date: Mar. 20, 2006
Publication date: Oct. 04, 2007
Summary:
【課題】製造に必要な工程数が増加せず、かつGaN層の結晶性が向上した半導体基板を提供する。【解決手段】Si基材1上に形成された第1のAlaGabIn1-a-bNv(0≦a≦1、0≦b≦1、かつ0≦a+b≦1)層2と、第1のAlaGabIn1-a-bNv層2上に形成された第2のAlcGadIn1-c-dNw層3と、第2のAlcGadIn1-c-dNw層3上に位置し、第3のAleGafIn1-e-fNx(0≦e≦1、0≦f≦1、かつ0≦e+f≦1)層及び第4のAlgGahIn1-g-hNy(0≦g≦1、0≦h≦1、かつ0≦g+h≦1)層を交互に積層した多層膜4と、多層膜4上に形成された第5のAliGajIn1-i-jNz(0≦i≦1、0≦j≦1、かつ0≦i+j≦1)層5とを具備し、多層膜4における第3のAleGafIn1-e-fNx層と第4のAlgGahIn1-g-hNy層の積層数は160層以下である。ただし、v、w、x、y、zは正数である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
Si基材上に形成された第1のAlaGabIn1-a-bNv(0≦a≦1、0≦b≦1、かつ0≦a+b≦1)層と、
前記第1のAlaGabIn1-a-bNv層上に形成された第2のAlcGadIn1-c-dNw(0≦c≦1、0≦d≦1、かつ0≦c+d≦1)層と、
前記第2のAlcGadIn1-c-dNw層上に位置し、第3のAleGafIn1-e-fNx(0≦e≦1、0≦f≦1、かつ0≦e+f≦1)層及び第4のAlgGahIn1-g-hNy(0≦g≦1、0≦h≦1、かつ0≦g+h≦1)層を交互に積層した多層膜と、
前記多層膜上に形成された第5のAliGajIn1-i-jNz(0≦i≦1、0≦j≦1、かつ0≦i+j≦1)層と、
を具備し、前記多層膜における前記第3のAleGafIn1-e-fNx層と前記第4のAlgGahIn1-g-hNy層の積層数は160層以下であることを特徴とする半導体基板。
ただし、v、w、x、y、zは正数である。
IPC (4):
H01L 21/205
, H01L 21/338
, H01L 29/778
, H01L 29/812
FI (2):
F-Term (23):
5F045AA04
, 5F045AB18
, 5F045AC08
, 5F045AC12
, 5F045AD13
, 5F045AF03
, 5F045BB11
, 5F045CA07
, 5F045DA52
, 5F045DA57
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD01
, 5F102GK04
, 5F102GK08
, 5F102GL04
, 5F102GL16
, 5F102GM04
, 5F102GM10
, 5F102GN04
, 5F102GN10
, 5F102GQ01
, 5F102HC01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (15)
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電界効果トランジスタの結晶層構造
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-195346
Applicant:エス・シー・テクノロジー株式会社
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半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-248735
Applicant:サンケン電気株式会社
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半導体構造とそれを備えた半導体素子及び結晶成長方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084934
Applicant:名古屋工業大学長, 日本酸素株式会社
-
低転位バッファーおよびその製造方法ならびに低転位バッファーを備えた素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-368566
Applicant:理化学研究所, 学校法人早稲田大学
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窒化ガリウム系化合物半導体の結晶成長方法およびその素子。
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-292303
Applicant:日亜化学工業株式会社
-
窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-034089
Applicant:日亜化学工業株式会社
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シリコン上に単結晶GaNを成長させる方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-509768
Applicant:ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド
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窒化物半導体材料を用いたヘテロ接合電界効果型トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-222312
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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半導体基体及びこの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-143328
Applicant:サンケン電気株式会社
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半導体電子デバイス
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-313765
Applicant:古河電気工業株式会社
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半導体素子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-371328
Applicant:三洋電機株式会社, 鳥取三洋電機株式会社
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窒化物系半導体を含む積層体およびそれを用いた電子素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-086133
Applicant:鈴木敏正, 旭化成株式会社
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半導体素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-267299
Applicant:日本碍子株式会社
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半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-020218
Applicant:サンケン電気株式会社
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特開平1-243411
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Cited by examiner (5)
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