特許
J-GLOBAL ID：200903075959277996

メッキの検査方法及びリードフレームの検査方法

発明者：
岡谷 真治

岡谷 真治 について

, 
三橋 光幸

三橋 光幸 について


出願人/特許権者：
凸版印刷株式会社

凸版印刷株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-026850
公開番号（公開出願番号）：特開2007-205974
出願日： 2006年02月03日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：
【課題】メッキを施したリードフレームの欠陥を人手によらず高精度に検査するのに好適な撮像方法を提供すると共に、メッキ欠陥の検査を自動的にかつリアルタイムに、高い信頼性の下で行なうことが可能なメッキ検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】メッキに600nm以上の波長の光線を照射する照射手段10と、その波長域で感度を有する撮像手段20によって照射手段10により照射されたメッキ表面を撮像することを特徴とするメッキ欠陥の検査方法及びメッキ表面に600nm以上の波長の光線を照射する照射手段10と、照射手段10により照射されたメッキ表面を撮像する撮像手段20と、前記撮像手段で得られた画像データからメッキ上の欠陥の有無を判定する画像処理・欠陥判定手段30を備えて検査を行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくともメッキされた部分を照明により照射し、この反射光を撮像手段により撮像して得られる画像データを作成する工程を含み、 前記照明からの照射光が600nm以上の波長の光線からなることを特徴とする銀メッキの検査方法。
IPC (2件)：
G01N 21/84 ,  G01N 21/956
FI (2件)：
G01N21/84 E ,  G01N21/956 Z
Fターム (11件)：
2G051AA62 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA04 ,  2G051BB11 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA11 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (15件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)
  • FA・マシンビジョン照明の基礎
  • FA・マシンビジョン照明の基礎

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