特許
J-GLOBAL ID:201003072380463315

分配測定デバイス及び分配を測定する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 谷 義一 ,  阿部 和夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-542970
公開番号(公開出願番号):特表2010-515014
出願日: 2007年12月21日
公開日(公表日): 2010年05月06日
要約:
分配測定デバイス。デバイスは、ホール効果センサと磁石との間の相対的な近接性を相関付ける。一方は、固定して保持され、他方は、分配時に起こる通常の作動に応答して移動可能である。近接性の変化の検出が、分配される材料の量と相関付けられる。
請求項(抜粋):
分配される材料の量を定量的に測定するデバイス(21)であって: 材料をその中で保持するリザーバと; 前記リザーバ内に収められた材料をそこから分配する分配オリフィスと; リザーバから前記オリフィスを通じて材料を分配する、前記リザーバに対して移動可能な作動装置を有するディスペンサと; 前記ディスペンサに対して固定の部材(22)とを含んでおり; 前記ディスペンサ及び前記固定部材(22)のうちの一方の上に配置されたホール効果センサ(40)と; 前記ディスペンサ及び前記固定部材(22)の他方の上に配置された磁石(42)とを特徴とし、それによって、前記磁石(42)と前記ホール効果センサ(40)との間の相対移動は、前記移動に応答して信号を生成し、前記信号は、前記リザーバから分配される不定量の材料と相関可能である、デバイス(21)。
IPC (4件):
G01B 7/00 ,  B65D 83/76 ,  B01J 4/02 ,  B05B 11/00
FI (6件):
G01B7/00 101H ,  B65D83/00 K ,  B01J4/02 A ,  B01J4/02 B ,  B05B11/00 101E ,  B05B11/00 102E
Fターム (25件):
2F063AA02 ,  2F063DA01 ,  2F063DA05 ,  2F063DD02 ,  2F063GA52 ,  2F063LA29 ,  3E014PA01 ,  3E014PB01 ,  3E014PB07 ,  3E014PC03 ,  3E014PD01 ,  3E014PD11 ,  3E014PE14 ,  3E014PE17 ,  3E014PE21 ,  3E014PF09 ,  4G068AA02 ,  4G068AA04 ,  4G068AB01 ,  4G068AB11 ,  4G068AD24 ,  4G068AD49 ,  4G068AE10 ,  4G068AF01 ,  4G068AF31
引用特許:
出願人引用 (23件)
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審査官引用 (12件)
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