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J-GLOBAL ID：200903056922227889

欠陥検出装置、欠陥検出方法、イメージセンサデバイス、イメージセンサモジュール、欠陥検出プログラム、およびコンピュータ読取可能な記録媒体

Inventor：
口井 敏匡

About 口井 敏匡


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社


Agent (1)： 特許業務法人原謙三国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007316181
Publication number (International publication number)：2008180696
Application date： Dec. 06, 2007
Publication date： Aug. 07, 2008
Summary：
【課題】イメージセンサ画像の欠陥領域を強調することによって、精度よく欠陥領域を検出することが可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を実現する。【解決手段】欠陥検出装置1は、欠陥領域を検出する対象となる検査対象画像の欠陥領域が、検査対象画像の他の領域に対して強調されるように、検査対象画像内の画素値を補正する画素値補正部16と、画素値が補正された検査対象画像を複数のブロックに分割すると共に、各ブロック内に存在する画素の画素値を加算した値であるブロック加算値、またはブロック加算値を、各ブロック内に存在する画素数で割ることによって求めた値であるブロック平均値を求めるブロック分割処理部17と、ブロック加算値またはブロック平均値の外れ値があるか否かを、統計処理部18の統計処理により判定することで上記欠陥領域の有無を判定する良否判定部19とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
自身の周囲の領域に比べて画素値が不均一に変化する領域である欠陥領域を、デジタル画像内から検出する欠陥検出装置であって、 上記欠陥領域として検出すべき領域に対応する画素値が、上記欠陥領域以外の領域の画素値に対して強調されるように、上記欠陥領域を検出する対象となる検査対象画像内の画素値を補正する画素値補正部と、 上記検査対象画像を複数のブロックに分割すると共に、各ブロック内に存在する画素の画素値を加算した値であるブロック加算値、または上記ブロック加算値を各ブロック内に存在する画素数で割ることによって求めた値であるブロック平均値を求めるブロック分割処理部とを備え、 上記ブロック加算値または上記ブロック平均値は、上記ブロック加算値または上記ブロック平均値の外れ値があるか否かを統計処理により判定することで上記欠陥領域の有無を判定する欠陥領域有無判定部に対して出力されることを特徴とする欠陥検出装置。
IPC (4)：
G01N 21/88 ,  H04N 1/40 ,  G06T 1/00 ,  G01M 11/00
FI (4)：
G01N21/88 J ,  H04N1/40 101G ,  G06T1/00 300 ,  G01M11/00 T
F-Term (38)：
2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EA23 ,  2G051EA25 ,  2G051EC03 ,  2G051EC05 ,  2G051ED22 ,  2G086EE01 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE02 ,  5B057CE03 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC23 ,  5B057DC30 ,  5C077LL02 ,  5C077LL13 ,  5C077MM02 ,  5C077MP08 ,  5C077PP01 ,  5C077PP31 ,  5C077PP32 ,  5C077PP34 ,  5C077PP46 ,  5C077PP51
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (15)
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Cited by examiner (15)
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