特許
J-GLOBAL ID:200903082890913964
シリコンウェーハ及び貼り合わせウェーハの製造方法、並びにその貼り合わせウェーハ
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
早川 政名 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-090803
公開番号(公開出願番号):特開2001-345435
出願日: 2001年03月27日
公開日(公表日): 2001年12月14日
要約:
【要約】【課題】 比較的簡便な方法により研磨ダレ(周辺ダレ)の少ない鏡面研磨ウェーハを作製する方法、及び外周除去領域がないか低減したSOI層またはボンド層を有する貼り合わせウェーハの製造方法並びにその貼り合わせウェーハを提供する。【解決手段】 シリコンウェーハの表面側の面取り幅をX1とし、裏面側の面取り幅をX2とするとき、X1<X2である面取り部を有するシリコンウェーハを用意し、該シリコンウェーハの表面を鏡面研磨した後、表面側の面取り幅がX3(X3>X1)になるように再度面取り加工する。
請求項(抜粋):
シリコンウェーハの表面側の面取り幅をX1とし、裏面側の面取り幅をX2とするとき、X1<X2である面取り部を有するシリコンウェーハを用意し、該シリコンウェーハの表面を鏡面研磨した後、表面側の面取り幅がX3(X3>X1)になるように面取り加工することを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
IPC (4件):
H01L 27/12
, B24B 9/00 601
, H01L 21/02
, H01L 21/304 621
FI (4件):
H01L 27/12 B
, B24B 9/00 601 H
, H01L 21/02 B
, H01L 21/304 621 D
引用特許:
審査官引用 (30件)
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半導体ウエハー
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-037978
出願人:株式会社ジャパンエナジー
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貼り合わせシリコンウエーハの接着方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-017155
出願人:三菱マテリアル株式会社, 三菱マテリアルシリコン株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-052765
出願人:富士電機株式会社
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