特許
J-GLOBAL ID:200903090386787756
光学顕微鏡及びスペクトル測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
家入 健
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-247510
公開番号(公開出願番号):特開2007-179002
出願日: 2006年09月13日
公開日(公表日): 2007年07月12日
要約:
【課題】精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。【解決手段】本発明の第1の態様にかかる光学顕微鏡100は、レーザ光源10と、光ビームをY方向に走査するY走査装置13と、対物レンズ21と、光ビームをX方向に走査するX走査装置13と、Y走査装置13から試料22までの光路中に配置され、試料22に入射された光ビームのうち、異なる波長となって試料22から対物レンズ21側に出射する出射光とレーザ光源10から試料22に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタ17と、Y方向に対応する方向に沿って配置された入射スリット30を有し、入射スリット30を通過した出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器31と、分光器31で分散させた出射光を検出する検出器32とを備えるものである。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
レーザ光源と、
前記レーザ光源からの光ビームを偏向させて第1の方向に走査する第1の走査手段と、
前記走査手段により走査された光ビームを集光して試料に入射させる対物レンズと、
前記第1の走査手段によって走査された光ビームと前記試料との相対位置を移動させて第2の方向に走査する第2の走査手段と、
前記第1の走査手段から前記試料までの光路中に配置され、前記試料に入射された光ビームのうち、異なる波長となって前記試料から前記対物レンズ側に出射する出射光と前記レーザ光源から前記試料に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタにより分離された出射光が集光されて入射する入射側に前記第1の方向に対応する方向に沿って配置された入射スリットを有し、前記入射スリットを通過した前記出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器と、
前記分光器で分散された出射光を検出する2次元アレイ光検出器とを備える光学顕微鏡。
IPC (7件):
G02B 21/06
, G02B 21/24
, G02B 21/36
, G01J 3/36
, G01J 3/44
, G01N 21/64
, G01N 21/65
FI (7件):
G02B21/06
, G02B21/24
, G02B21/36
, G01J3/36
, G01J3/44
, G01N21/64 E
, G01N21/65
Fターム (43件):
2G020AA03
, 2G020CA01
, 2G020CA02
, 2G020CA04
, 2G020CB23
, 2G020CB42
, 2G020CC02
, 2G020CC13
, 2G020CC28
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD13
, 2G020CD14
, 2G020CD24
, 2G043AA01
, 2G043BA15
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043EA03
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA08
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043JA03
, 2G043JA04
, 2G043JA05
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2H052AA07
, 2H052AB01
, 2H052AC15
, 2H052AC34
, 2H052AD18
, 2H052AD34
, 2H052AF07
, 2H052AF14
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (17件)
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特開昭62-018179
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特開平1-316715
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共焦点用光学走査装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2002-527837
出願人:ヴァンサン・ロウエ
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光ビーム走査装置及びレーザ走査顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-343029
出願人:浜松ホトニクス株式会社
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光走査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-296804
出願人:株式会社三協精機製作所
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照明装置ならびに投射型表示装置とその駆動方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-346674
出願人:セイコーエプソン株式会社
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分光装置およびその操作方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-216393
出願人:レニショウトランスデューサシステムズリミテッド
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光学部品取り付け装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-067321
出願人:レニショウパブリックリミテッドカンパニー
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特開昭64-061717
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レーザ顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-155634
出願人:オリンパス株式会社
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共焦点分光システムおよび分光方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-327190
出願人:マツクス-プランク-ゲゼルシャフトツールフエルデルングデルヴイツセンシャフテンエーフアウ
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光刺激装置および光走査型観察装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-143579
出願人:オリンパス株式会社
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顕微鏡観察装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-205092
出願人:レーザーテック株式会社
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落射蛍光顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-003076
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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落射蛍光顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-126636
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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レーザ走査式細胞分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-292506
出願人:オムロン株式会社
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応力測定方法および応力測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-134595
出願人:株式会社日立製作所
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