特許
J-GLOBAL ID：201103033759724762

半田印刷検査装置及び半田印刷システム

発明者：
新山 孝幸

新山 孝幸 について


出願人/特許権者：
シーケーディ株式会社

シーケーディ株式会社 について


代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-046318
公開番号（公開出願番号）：特開2011-180058
出願日： 2010年03月03日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
要約：
【課題】半田印刷を行うにあたり、生産性の低下抑制等を図ることのできる半田印刷検査装置及び半田印刷システムを提供する。【解決手段】半田印刷検査装置は、CCDカメラによって撮像された画像データに基づき、2つのランド2a,2bと接する半田ブリッジ3bを検出し、当該半田ブリッジ3bと接する2つのランド2a,2bの間の距離L1をブリッジ距離として算出する。そして、当該距離L1が許容範囲内であるか否かを判定し、当該距離L1が許容範囲内でないと判定した場合に、所定の重欠陥処理を実行する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
電子部品を実装するための複数のランドを有した基板上に印刷された半田を検査するための半田印刷検査装置であって、 前記基板に対し光を照射可能な照射手段と、 前記光の照射された基板を撮像可能な撮像手段と、 前記撮像手段によって撮像された画像データに基づき、2つの前記ランドと接する半田ブリッジを検出可能な半田ブリッジ検出手段と、 前記半田ブリッジと接する2つのランド同士又は当該ランドに対応して設定される半田印刷領域同士若しくは半田検査枠同士の間の距離をブリッジ距離として算出する距離算出手段と、 前記ブリッジ距離が許容範囲内であるか否かを判定する距離判定手段と、 前記ブリッジ距離が許容範囲内でないと判定した場合に、所定の重欠陥処理を実行する重欠陥処理手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
IPC (5件)：
G01B 11/14 ,  B41F 15/08 ,  B41F 15/12 ,  H05K 3/34 ,  G01N 21/956
FI (5件)：
G01B11/14 H ,  B41F15/08 303E ,  B41F15/12 A ,  H05K3/34 512B ,  G01N21/956 B
Fターム (31件)：
2C035AA06 ,  2F065AA22 ,  2F065AA24 ,  2F065AA49 ,  2F065AA53 ,  2F065BB02 ,  2F065CC26 ,  2F065FF09 ,  2F065FF42 ,  2F065HH01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ41 ,  2F065RR06 ,  2F065SS04 ,  2F065SS09 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB11 ,  2G051CA03 ,  5E319AA03 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG05 ,  5E319GG15
引用特許：
出願人引用 (19件)
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審査官引用 (19件)
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