特許
J-GLOBAL ID：200903081798155321
X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
横井 俊之
, 岩上 渉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-163716
公開番号（公開出願番号）：特開2006-184267
出願日： 2005年06月03日
公開日（公表日）： 2006年07月13日
要約：
【課題】 多数の検査対象品を高速に検査することが困難であった。【解決手段】 X線によって検査対象を検査するにあたり、固定的に配置されたX線源から所定の立体角の範囲にX線を出力し、上記X線の出力範囲内で平面的に検査対象品を移動させ、上記立体角に含まれる位置であるとともに上記検査対象品の移動平面に対して垂直な軸を中心にした複数の回転位置において、上記軸に対して傾斜した検出面でX線を検出し、同検出されたX線に基づいて上記検査対象品の検査を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
固定的に配置されたX線源から所定の立体角の範囲にX線を出力するX線出力手段と、
上記X線の出力範囲内で平面的に検査対象品を移動させる平面移動手段と、
上記立体角に含まれる位置であるとともに上記検査対象品の移動平面に対して垂直な軸を中心にした複数の回転位置において、上記軸に対して傾斜した検出面でX線を検出するX線検出手段と、
同検出されたX線に基づいて上記検査対象品の検査を行う対象品検査手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001GA06
, 2G001GA13
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001JA06
, 2G001JA07
, 2G001KA03
, 2G001LA11
, 2G001MA05
, 2G001PA11
, 2G001SA04
, 2G001SA14
出願人引用 (1件)
-
X線透過検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-169438
出願人：オーエヌ電子株式会社
審査官引用 (23件)
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引用文献：
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