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J-GLOBAL ID:200903099837273732

蛍光観察装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000114702
Publication number (International publication number):2001078175
Application date: Apr. 17, 2000
Publication date: Mar. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 蛍光観察装置の光源において、半導体レーザの構成材料およびその駆動方式の設定を最適化することにより、強度の高い励起光を発生させる。【解決手段】 励起光光源17から発せられた励起光Leを生体組織1に照射する励起光照射手段200と、この励起光の照射により生体組織1から発生した蛍光を測光する蛍光測光手段300とを備えてなる蛍光観察装置において、励起光光源17にGaN系の半導体レーザを用いるようにする。
Claim (excerpt):
光源から発せられた励起光を生体等の試料に照射する励起光照射手段と、前記励起光の照射により前記試料から発生した蛍光を測光する蛍光測光手段とを備えてなる蛍光観察装置において、前記光源としてGaN系の半導体レーザを用いたことを特徴とする蛍光観察装置。
IPC (11):
H04N 7/18 ,  A61B 1/00 300 ,  A61B 1/04 370 ,  A61B 1/06 ,  G02B 21/00 ,  G02B 23/24 ,  G02B 23/26 ,  H01S 5/024 ,  H01S 5/18 ,  H01S 5/343 ,  H01S 5/40
FI (12):
H04N 7/18 M ,  H04N 7/18 B ,  A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/04 370 ,  A61B 1/06 A ,  G02B 21/00 ,  G02B 23/24 B ,  G02B 23/26 B ,  H01S 5/024 ,  H01S 5/18 ,  H01S 5/343 ,  H01S 5/40
F-Term (44):
2H040BA00 ,  2H040CA02 ,  2H040CA11 ,  2H040GA01 ,  2H040GA10 ,  2H052AC12 ,  2H052AC26 ,  2H052AC30 ,  2H052AC34 ,  2H052AF14 ,  4C061AA01 ,  4C061BB02 ,  4C061BB05 ,  4C061CC06 ,  4C061LL02 ,  4C061LL08 ,  4C061NN01 ,  4C061QQ02 ,  4C061QQ04 ,  4C061QQ07 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR04 ,  4C061RR26 ,  4C061XX02 ,  5C054AA01 ,  5C054CA04 ,  5C054CA06 ,  5C054CB03 ,  5C054CC07 ,  5C054EB05 ,  5C054GA04 ,  5C054GB01 ,  5C054HA12 ,  5F073AA45 ,  5F073AA74 ,  5F073AB05 ,  5F073AB16 ,  5F073AB21 ,  5F073AB27 ,  5F073AB28 ,  5F073BA09 ,  5F073CA07 ,  5F073FA25 ,  5F073GA21
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (30)
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