特許
J-GLOBAL ID:200903019220722609
不揮発性強誘電体メモリの配線
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山川 政樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-327822
公開番号(公開出願番号):特開2003-282841
出願日: 2002年11月12日
公開日(公表日): 2003年10月03日
要約:
【要約】【課題】 ビットライン間のクロストークキャパシタンスの比率を減らして干渉を減少させ、また、工程課程から発生するメインビットライン間のパーティクル問題を減らして歩留まりを増加させることができる不揮発性強誘電体メモリの配線を提供する。【解決手段】 ビットライン又はサブビットライン、特にメインビットラインを1層に配置せずに、複数の層にそれぞれ形成するようにした。したがって、それぞれの層におけるビットラインの間隔を広くすることができ、ビットライン間のクロストークキャパシタンスの比率を減らして干渉を減少させ、また、工程課程から発生するメインビットライン間のパーティクル問題を減らして歩留まりを増加させることができる。
請求項(抜粋):
それぞれ複数個の単位セルを含むサブセルアレイのブロックを備えたセルアレイブロック内で、前記単位セルの一端子に連結されるように一ライン方向に一定の間隔を保って配列されたサブビットラインと、それぞれのサブビットラインに対応させて配置されているメインビットラインとを備えた不揮発性強誘電体メモリの配線において、サブビットラインを1層に平行に並べる一方、メインビットラインはサブビットラインの層の上の複数の層に、それぞれの層に少なくともサブビットライン2本ごとに間隔をあけて配置したことを特徴とする不揮発性強誘電体メモリの配線。
IPC (3件):
H01L 27/105
, G11C 11/22 501
, H01L 27/10 471
FI (3件):
G11C 11/22 501 F
, H01L 27/10 471
, H01L 27/10 444 B
Fターム (6件):
5F083FR02
, 5F083GA13
, 5F083KA06
, 5F083KA10
, 5F083LA13
, 5F083ZA28
引用特許:
審査官引用 (22件)
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特開平2-143982
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-359276
出願人:株式会社日立製作所
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半導体メモリ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-264283
出願人:株式会社日立製作所
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特開平4-035063
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-082204
出願人:セイコーエプソン株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-132419
出願人:富士通株式会社
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不揮発性強誘電体メモリ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-314353
出願人:現代電子産業株式会社
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不揮発性強誘電体メモリ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-273575
出願人:現代電子産業株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-171262
出願人:川崎製鉄株式会社
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強誘電体メモリ
公報種別:公表公報
出願番号:特願平8-514630
出願人:シメトリックスコーポレーション, オリンパス光学工業株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-033426
出願人:日本電気株式会社
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特開平2-143982
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特開平4-035063
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特開昭63-308371
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不揮発性半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-018566
出願人:ソニー株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-069959
出願人:日本電気株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-149615
出願人:シャープ株式会社
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強誘電体メモリ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-330863
出願人:株式会社日立製作所
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ビット線容量分離を含む強誘電体を用いたRAM検出構成
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-133203
出願人:ラムトロンインターナショナルコーポレイション
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-302814
出願人:株式会社東芝
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特開平3-077369
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強誘電体ランダムアクセスメモリ装置のデータ感知方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-047719
出願人:三星電子株式会社
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