特許
J-GLOBAL ID:200903024294927290

描画装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 松浦 孝 ,  小倉 洋樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-115112
公開番号(公開出願番号):特開2005-300807
出願日: 2004年04月09日
公開日(公表日): 2005年10月27日
要約:
【課題】 スループットを低下させることなく所定の描画パターンを効率よく基板へ繰り返し形成する。【解決手段】 パターンデータ処理部は、所定の描画パターンに応じたパターンデータを分割し、分割パターンデータを生成する。イメージ生成処理部は、ベクタデータである分割パターンデータをラスタデータに変換し、順次ビットマップメモリへ書き込む。このとき、分割パターンデータPD1〜PD8をオフセット加算してからラスタデータに変換する。【選択図】 図8
請求項(抜粋):
長手方向に連続的に搬送されるパターン形成用基板へ直接描画する描画システムであって、 パターン形成のため光を放射する光源と、 前記光源からの光を所定の描画パターンに応じて照射する露光部と、 前記描画パターンを前記基板の長手方向に沿って繰り返し描画するため、描画パターンに応じた設計用パターンデータをラスタデータへ繰り返し変換するパターンデータ変換手段と、 前記パターンデータ全体のラスタデータ容量と容量サイズが異なるラスタデータ用メモリと、 前記ラスタデータを前記メモリへ順次書き込み、読み出して出力するラスタデータ処理手段と、 前記ラスタデータに基いて前記露光部を制御する描画手段とを備え、 前記パターンデータが、1つの描画パターンに基づいて規定された第1の2次元座標系により表されるベクタデータであり、 前記パターンデータ変換手段が、基板上に形成される繰り返し展開された描画パターンに従い前記パターンデータを繰り返し展開することにより規定される第2の2次元座標系に従って、順次読み出されるパターンデータを表現することを特徴とする描画システム。
IPC (2件):
G03F7/20 ,  H01L21/027
FI (2件):
G03F7/20 501 ,  H01L21/30 519
Fターム (11件):
2H097AA03 ,  2H097AB05 ,  2H097BA02 ,  2H097DB07 ,  2H097LA09 ,  2H097LA10 ,  5F046BA06 ,  5F046BA07 ,  5F046CC01 ,  5F046CC13 ,  5F046DA11
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (26件)
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