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J-GLOBAL ID:200903046735994617

高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小島 隆司 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001140211
Publication number (International publication number):2002338690
Application date: May. 10, 2001
Publication date: Nov. 27, 2002
Summary:
【要約】【解決手段】 下記一般式(1)で示される繰り返し単位を有する高分子化合物。【化1】(式中、R1は単結合又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状の2価の炭化水素基であり、有橋環式炭化水素基であってもよい。R2は酸不安定基であり、R3はフッ素原子又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状のフッ素化されたアルキル基であり、1≦m≦3、1≦n≦4、m+n≦5の範囲である。)【効果】 本発明のレジスト材料は、高エネルギー線に感応し、200nm以下、特には170nm以下の波長における感度、解像性、プラズマエッチング耐性に優れている。従って、本発明のレジスト材料は、これらの特性より、特にF2エキシマレーザーの露光波長での吸収が小さいレジスト材料となり得るもので、微細でしかも基板に対して垂直なパターンを容易に形成でき、このため超LSI製造用の微細パターン形成材料として好適である。
Claim (excerpt):
下記一般式(1)で示される繰り返し単位を有する高分子化合物。【化1】(式中、R1は単結合又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状の2価の炭化水素基であり、有橋環式炭化水素基であってもよい。R2は酸不安定基であり、R3はフッ素原子又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状のフッ素化されたアルキル基であり、1≦m≦3、1≦n≦4、m+n≦5の範囲である。)
IPC (6):
C08G 77/24 ,  C08K 5/00 ,  C08L 83/08 ,  G03F 7/039 601 ,  G03F 7/40 521 ,  H01L 21/027
FI (6):
C08G 77/24 ,  C08K 5/00 ,  C08L 83/08 ,  G03F 7/039 601 ,  G03F 7/40 521 ,  H01L 21/30 502 R
F-Term (59):
2H025AA01 ,  2H025AA02 ,  2H025AA03 ,  2H025AA09 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB33 ,  2H025CB41 ,  2H025CC03 ,  2H025CC20 ,  2H025FA01 ,  2H025FA12 ,  2H025FA17 ,  2H025FA41 ,  2H096AA25 ,  2H096BA09 ,  2H096DA01 ,  2H096EA03 ,  2H096EA04 ,  2H096FA01 ,  2H096GA08 ,  2H096HA24 ,  2H096HA25 ,  4J002CP031 ,  4J002CP081 ,  4J002EJ037 ,  4J002EJ047 ,  4J002EJ067 ,  4J002EN028 ,  4J002EN029 ,  4J002EN038 ,  4J002EN048 ,  4J002EN068 ,  4J002EN108 ,  4J002EN118 ,  4J002EQ016 ,  4J002ES008 ,  4J002EU028 ,  4J002EU048 ,  4J002EU078 ,  4J002EU079 ,  4J002EU118 ,  4J002EU139 ,  4J002EU228 ,  4J002EU239 ,  4J002EV236 ,  4J002EV328 ,  4J002GP03 ,  4J035BA12 ,  4J035CA01K ,  4J035CA07K ,  4J035CA16K ,  4J035LA03 ,  4J035LB16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (18)
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Cited by examiner (18)
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