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J-GLOBAL ID:200903052775668259

窒化物系半導体素子及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997037990
Publication number (International publication number):1998135575
Application date: Feb. 21, 1997
Publication date: May. 22, 1998
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、成長後の熱処理を不要として低廉化及び生産性の向上を図りつつ、p型伝導層の品質を向上させ、長寿命化と信頼性の向上を図る。【解決手段】 基板(11)上に、少なくともn型Inx Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n (0≦x、0≦y、0≦z、0≦x+y+z≦1、0x Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n (0≦x、0≦y、0≦z、0≦x+y+z≦1、0x Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n 層の表面酸素濃度が5×1018cm-3以下である窒化物系半導体素子及びその製造方法。
Claim (excerpt):
基板上に、少なくともn型Inx Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n (0≦x、0≦y、0≦z、0≦x+y+z≦1、0x Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n (0≦x、0≦y、0≦z、0≦x+y+z≦1、0x Aly Gaz B1-x-y-z Nm Pn As1-m-n 層の表面酸素濃度は、5×1018cm-3以下であることを特徴とする窒化物系半導体素子。
IPC (4):
H01S 3/18 ,  H01L 21/205 ,  H01L 29/12 ,  H01L 33/00
FI (4):
H01S 3/18 ,  H01L 21/205 ,  H01L 33/00 C ,  H01L 29/14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (16)
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